تحليل ICP-OES

يعد قياس طيف انبعاث البلازما المقترن بالحث (ICP-OES) أحد أهم الطرق المفيدة لتحليل العناصر. يمكن استخدام هذه الطريقة لقياس العناصر ذات حدود الكشف عن جزء في المليون (ppm) في عينات مختلفة مثل التربة والمياه والمعادن والسيراميك والعينات العضوية. أساس هذه الطريقة هو إثارة الإلكترونات لعناصر مختلفة في بيئة تسمى البلازما وانبعاث الضوء بعد حالة الراحة الإلكترونية ، وبسبب تعدد استخداماتها وقابليتها للتكاثر ، فمن الممكن الحصول على نتائج بدقة عالية وصحة. من أهم مزايا هذه الطريقة قابلية التكرار العالية وإمكانية قياس عدة عناصر في نفس الوقت. ICP-OES لديه القدرة على تحديد العناصر بما في ذلك المعادن الثقيلة مثل Hg و Pb و Zn و Cu و Cd و Cr والعناصر القلوية والقلوية الترابیة مثل: Li ، Na ، K ، Ca ، Mg في نطاق واسع من التركيزات مع حد الكشف عن جزء في المليون (ppm) و … في نفس الوقت.