تحليل XRD التعرف علی تحليل (XRD) مطيافية حيود الأشعة السينية  مقدمة  كما نعلم ، تعتمد الخواص الفيزيائية والكيميائية للمواد على المواد الخام المستخدمة بالإضافة إلى البنية المجهرية أو التركيب المجهري للمواد ، لذا فإن موضوع تحليل المواد وتحديدها له أهمية خاصة في هندسة المواد. في الوقت الحاضر ، يتم تحديد المواد وتحليلها بطرق مختلفة. إحدى هذه الطرق هي طريقة تحليل XRD ، والتي سنشرحها فيما يلي.

تحليل XRD Low angle

عند زوايا أقل من 5 درجات ، يتم وضع مصدر الأشعة السينية أمام الكاشف ، لذا فإن كمية كبيرة من الأشعة السينية المنبعثة تدخل الكاشف مباشرة ويمكن أن تضّر بالكاشف. لذلك ، يجب منع ذلك باستخدام المعدات الخاصة. تم تجهيز بعض أجهزة XRD بأجهزة يمكنها التعامل مع زوايا أقل من 5 درجات إلى 0.8 درجة.